CIM Blog

利用经行业验证的交钥匙 CIM 解决方案实现关键的工厂 KPI

使用我们的 SmartFactory CIM 解决方案在您的整个工厂生产领域中集成自动化功能。

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The Point of truth for Runtime Recipe Control

运行时配方控制的本质

最新版本的 SmartFactory Recipe Management,为运行时配方控制提供更佳的数据同步选项。

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Improve Productivity in AL and ML

提高 AI 和 ML 解决方案的开发和部署效率

借助我们的 SmartFactory 高效人工智能/机器学习(AI/ML)平台,体验通过集成化的方式对人工智能/机器学习(AI/ML)模块进行开发。

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Moving automotive quality to zero defects

汽车质量生产:力求实现零缺陷

了解如何通过加倍坚持“零缺陷”的思维模式来引导汽车电子革命,从而降低质量生产以外的成本。

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Common Data Model enables RAPID deployment for productivity solutions

通用数据模型支持快速部署生产效率解决方案——挑战(第 1 部分,共3部分)

快速部署工厂生产效率和供应链解决方案面临的数据挑战

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Common Data Model Enables Rapid Deployment for Productivity Solution

通用数据模型支持快速部署生产效率解决方案——解决方案(第 2 部分,共3部分)

通用数据框架支持快速部署工厂生产效率和供应链解决方案

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Productivity Solutions Dispatching and Reporting

通用数据模型支持快速部署生产效率解决方案 – Dispatching & Reporting(第 3 部分,共 3 部分)

借助 SmartFactory Dispatching解决方案,可在 6 个月内将生产周期缩短 10% 。

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半导体封装测试的全自动化之路 - 新兴挑战(第 1 集,共 3 集)

半导体封装测试的全自动化之路 – 新兴挑战(第 1 集,共 3 集)

了解专家在应对半导体后端制造的新兴挑战和复杂性时最关注的内容。

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The Road to Full Auto in Semiconductor Assembly Test Manufacturing – SmartFactory Roadmap (Part 2 of 3)

半导体封装测试的全自动化之路 – SmartFactory解决方案路线图(第2集,共3集)

实现半导体后道制造全自动的路线图。

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Road to Full Auto in Semiconductor Assembly Test Manufacturing – Overcoming Roadblocks (Part 3 of 3)

半导体封装测试的全自动化之路 – 克服障碍(第3集,共3集)

公司准备工作、数据设备、工厂布局、物料搬运……这些障碍听起来熟悉吗?观看这个视频(第3集,共3集),从专家那里获得有关如何实现全自动的建议。

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Enhancing your Digital Experience

提升您的数字体验

通过改进仪表板、报告、操作和工作流转变用户体验、图像和功能。

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Implement Cloud-Native Architecture

走在边缘——SEMICON Europa 2021

通往无缝混合云环境之路。

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