半导体网络研讨会

在本次网络研讨会中,Yoram Barak 和 Chandramouli Sankaranarayanan 将探讨如何通过耐用设备与耗材管理优化资产效率。
在本次网络研讨会中,Selim Nahas、Yoram Barak 和 Chandramouli Sankaranarayanan 将探讨耐用设备监控在半导体制造中的关键作用。
Vishali Ragam 将主讲本次网络研讨会,深入探讨统计过程控制 (SPC) 在工艺质量管理中的关键作用。
了解应用材料公司 E3 平台如何利用基于AI和机器学习技术的平台,通过 FDC、SPC、run-to-run (R2R) 软件协作运行,实时优化制程,提高设备利用率,降低缺陷,提高良率。