• 联系我们
  • 订阅

以更好的可见性推动良率提升

使用集成的良率分析解决方案,改进良率学习并加快良率提升。
Yield Management Blog
在您的晶圆厂里,哪些类型的良率问题会影响您的工厂效益? 缺陷? 参数? 两者都会? 您的晶圆图是否存在低良率、量测或参数化的“斑点”? 为解决这些问题,一套集成的、应用于晶圆厂范围内的良率集成管理系统对加速良率学习和减少质量分析时间至关重要。
SmartFactory Yield Management (SmartFactory良率管理解决方案)采用单一存储和分析平台,适用于所有半导体数据,为整个企业提供单一的真实数据源。 它加载并预对齐来自 WIP、FDC、量测、缺陷、排序、封装、最终测试和其他来源的各种数据,从而缩短分析时间,避免代价高昂的良率偏移的发生。

凭借 SmartFactory Yield Management(SmartFactory良率管理解决方案),客户达到成熟良率所用时间缩短了 30%,实现质量数据分析的时间缩短了 80%

有关我们解决方案的详细信息,请查看我们的解决方案简介:

想了解关于良率管理和其他解决方案的更多信息?

关于作者

Todd Snarr
Todd Snarr
Connect with us on LinkedIn at https://www.linkedin.com/showcase/applied-smartfactory/ to begin your journey towards creating a world class factory today.