SmartFactory Defect Sourceを選ぶ理由
SmartFactory Defect Sourceは、チームによる迅速な意思決定、エンジニアリング工数の削減、装置停止によるロスタイムの短縮を支援します。
実際の生産現場で実証された成果：
半導体メーカーは、制御外イベントの原因をどのようにより迅速に特定できるのでしょうか？
SmartFactory Defect Source は、半導体製造における Out-Of-Contro (OOC) 欠陥エベントのトラブルシューティングに AI を活用します。欠陥が発生したレイヤーを自動で特定できるため、エンジニアの根本原因分析を加速し、手作業によるトラブルシューティングを削減します。
私たちの取り組みから得られる効果
根本原因分析の迅速化
- 検出から調査に至るまでの遅延時間を短縮
- 是正処置をどこに集中させるべきかを迅速に把握可能
エンジニアリングリソースのより効率的な活用
- 手作業および特定の専門家に特化したトラブルシューティングへの依存度を低減
- 一部の経験豊富なエンジニアに依存しがちな知見の蓄積・活用を支援
- データサイエンスの専門知識を必要とせず、直観的な Web ベースのトラブルシューティング手順をベースにした作業が可能
既存の製造データとシステムのより効果的な活用
- 既存の DMS 投資を基盤とし、そのまま活かしながらの構築が可能
- Klarity、DiscoverなどのシステムおよびKLARFやTIFFなどのファイル形式や標準プロトコルを使用する御社ソリューションと統合可能
- API、SEM、TEM、ウェハマップから得られる検査・レビューデータを統合し、より包括的な欠陥分析を実現