半導体品質

データに基づく分析により、誤警報を減らし、UVAの管理値を最適化する
統計的プロセス制御(SPC)と故障検出(FD)の機能をインテグレーションすることで、半導体メーカーは品質、信頼性、効率をさらに向上させることができます。